I+D+i

Caracterización de la superficie del implante por microscopía electrónica de barrido (SEM)

El objetivo de este ensayo es determinar la caracterización textural y composicional de un implante MPI en un microscopio electrónico de barrido Jeol JSM 6335F dotado de un espectrómetro para análisis composicional por dispersión de energías de rayos X oxford X-Max de 80 mm2

Estos ensayos han sido realizados por en Centro Nacional de Microscopía Electrónica (CNME) de la Universidad Complutense de Madrid.

En la figura siguiente se muestran imágenes del implante, a bajos aumentos, obtenidas en el microscopio electrónico de barrido. 

 

 

En estas imágenes se observan dos zonas bien diferenciadas: Una zona mezanizada lisa (Ra=0,6 µm) y otra rugosa (Ra=1,2 µm)

Estas zonas se analizaron con mayor detalle. En las imágenes siguientes se muestra el aspecto superficial de la zona lisa (figura izquierda) y rugosa (figura derecha).

 

 

A continuación, se realizó un análisis por espectroscopía de dispersión de energías de rayos X (XEDS) en ambas zonas. 

En conclusión, a la vista de los resultados obtenidos por espectroscopía de dispersión de energías de rayos X (XEDS) se comprueba que tanto en la parte mecanizada lisa como en la parte rugosa sólo hay presencia de Titanio, no interfieren otros elementos.